Aehr Test Systems AEHR

Aehr Test Systems, met hoofdzetel in Fremont, Californië, is een wereldwijde leverancier van testsystemen voor het inbranden en testen van geïntegreerde schakelingen voor logica, optica en geheugen, en heeft wereldwijd meer dan 2.500 systemen geïnstalleerd. De verhoogde kwaliteits- en betrouwbaarheidsbehoeften van de automobiel- en mobiliteitsmarkten voor geïntegreerde schakelingen leiden tot bijkomende testvereisten, verhoogde capaciteitsbehoeften en nieuwe mogelijkheden voor Aehr Test-producten in pakket-, waferniveau en singulated die/module-niveautest. Aehr Test heeft verschillende innovatieve producten ontwikkeld en geïntroduceerd, waaronder de ABTSTM en FOX-PTM families van test- en burn-in systemen en FOX WaferPakTM Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak® Carrier en FOX DiePak Loader. Het ABTS-systeem wordt gebruikt voor productie- en kwalificatietests van verpakte onderdelen voor zowel logische apparaten met een lager vermogen als met een hoger vermogen, alsook voor alle gangbare types geheugenapparaten. De FOX-XP en FOX-NP systemen zijn full wafer contact en singulated die/module test- en burn-in systemen die gebruikt worden voor het burn-in en functioneel testen van complexe apparaten, zoals leading-edge geheugens, digitale signaalprocessors, microprocessors, microcontrollers, systems-on-a-chip, en geïntegreerde optische apparaten. Het FOX-CP systeem is een nieuwe low-cost single-wafer compacte test- en betrouwbaarheidsverificatie-oplossing voor logische, geheugen- en fotonische componenten en de nieuwste toevoeging aan de FOX-P productfamilie. De WaferPak contactor bevat een unieke volledige wafer probe kaart die in staat is om wafers tot 300mm te testen. Dit stelt IC fabrikanten in staat om testen en burn-in van volledige wafers uit te voeren op Aehr Test FOX systemen. De DiePak Carrier is een herbruikbaar, tijdelijk pakket dat IC-fabrikanten in staat stelt om kosteneffectieve eindtesten en burn-in uit te voeren van zowel kale dobbelstenen als modules.